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簡(jiǎn)要描述：2-12μm 中紅外MCT 四級(jí)熱電冷卻紅外光電探測(cè)器 PV-4TE系列具有好的性能和穩(wěn)定性。探測(cè)器在λopt時(shí)達(dá)到最佳性能。起始波長(zhǎng)可根據(jù)需要進(jìn)行優(yōu)化。反向偏壓可以顯著提高響應(yīng)速度和動(dòng)態(tài)范圍以及高頻下的性能，但偏置器件中出現(xiàn)的1/f噪聲可能會(huì)降低低頻下的性能。
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時(shí)間：2024-12-04訪 問(wèn) 量：737詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,建材,電子 |
PV-4TE系列是基于復(fù)雜的MCT異質(zhì)結(jié)構(gòu)的四級(jí)熱電冷卻紅外光電探測(cè)器，具有好的性能和穩(wěn)定性。探測(cè)器在λopt時(shí)達(dá)到最佳性能。起始波長(zhǎng)可根據(jù)需要進(jìn)行優(yōu)化。反向偏壓可以顯著提高響應(yīng)速度和動(dòng)態(tài)范圍以及高頻下的性能，但偏置器件中出現(xiàn)的1/f噪聲可能會(huì)降低低頻下的性能。3°楔狀藍(lán)寶石(wAl2O3)或硒化鋅抗反射涂層(wZnSeAR)窗口可防止不必要的干擾影響。
● 醫(yī)學(xué)熱成像
● 紅外光譜分析
● 中紅外氣體吸收檢測(cè)
● 中紅外激光探測(cè)
參數(shù) | 探測(cè)器型號(hào) | ||||||
PV-4TE-3 | PV-4TE-3.4 | PV-4TE-4 | PV-4TE-5 | PV-4TE-6 | PV-4TE-8 | PV-4TE-10.6 | |
有源元件材料 | 外延MCT異質(zhì)結(jié)構(gòu) | ||||||
最佳波長(zhǎng)λopt，μm | 3.0 | 3.4 | 4.0 | 5.0 | 6.0 | 8.0 | 10.6 |
探測(cè)靈敏度D*(λpeak），cm·Hz?/w | ≥3×1011 | ≥2×1011 | ≥1×1011 | ≥4×1010 | ≥9×109 | ≥5×108 | ≥4×108 |
探測(cè)靈敏度D*(λopt），cm·Hz?/W | ≥1.5×1011 | ≥1×1011 | ≥6×1010 | ≥1.5×1010 | ≥5×109 | ≥4×108 | ≥2×108 |
電流響應(yīng)度Ri(λopt)，A/W | ≥0.5 | ≥0.8 | ≥1.0 | ≥1.3 | ≥1.5 | ≥1.0 | ≥0.5 |
時(shí)間常數(shù)T，ns | ≤280 | ≤200 | ≤100 | ≤80 | ≤50 | ≤45 | ≤25 |
電阻-感光元件面積乘積R·A,Ω·cm2 | ≥300 | ≥20 | ≥8 | ≥0.4 | ≥0.03 | ≥0.0006 | ≥0.0005 |
有源元件溫度Tdet,K | ~195 | ||||||
感光面面積A，mm×mm | 0.05×0.05,0.1×0.1 | 0.05×0.05 | |||||
封裝 | TO8,TO66 | ||||||
接收角Φ | ～70° | ||||||
窗口 | wAl2O3 | wZnSeAR | |||||
探測(cè)器光譜響應(yīng)特性曲線
熱敏電阻特性曲線
四級(jí)TE冷卻參數(shù)表
參量 | 數(shù)值 |
Tdet , K | ~195 |
Vmax , V | 8.3 |
Imax , A | 0.4 |
Qmax , W | 0.28 |
抗反射涂層窗口光譜透過(guò)率曲線
(更多關(guān)于MCT探測(cè)器 MCT探測(cè)器 )
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