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2-12μm ,MCT中紅外四級(jí)TE冷卻光浸式光電探測(cè)器 PVI-4TE系列

簡(jiǎn)要描述:2-12μm ,MCT中紅外四級(jí)TE冷卻光浸式光電探測(cè)器 PVI-4TE系列

PVI-4TE系列是基于復(fù)雜的HgCdTe異質(zhì)結(jié)構(gòu)的四級(jí)熱電冷卻紅外光電探測(cè)器,具有優(yōu)秀的性能和穩(wěn)定性,同時(shí)采用光學(xué)浸入來改善器件的參數(shù)。探測(cè)器在λopt時(shí)具有他本身的最佳性能。起始波長(zhǎng)可根據(jù)需要進(jìn)行優(yōu)化。反向偏置電壓可以顯著提高響應(yīng)速度和動(dòng)態(tài)范圍以及高頻下的性能,但偏置器件中出現(xiàn)的1/f噪聲可能會(huì)降低低頻下的性能。

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間:2024-12-05
  • 訪  問  量:790

詳細(xì)介紹

品牌其他品牌產(chǎn)地類別進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域化工,能源,建材,電子

2-12μm ,MCT中紅外四級(jí)TE冷卻光浸式光電探測(cè)器  PVI-4TE系列

PVI-4TE系列是基于復(fù)雜的HgCdTe異質(zhì)結(jié)構(gòu)的四級(jí)熱電冷卻紅外光探測(cè)器,具有優(yōu)秀的性能和穩(wěn)定性,同時(shí)采用光學(xué)浸入來改善器件的參數(shù)。探測(cè)器在λopt時(shí)具有他本身的最佳性能。起始波長(zhǎng)可根據(jù)需要進(jìn)行優(yōu)化。反向偏置電壓可以顯著提高響應(yīng)速度和動(dòng)態(tài)范圍以及高頻下的性能,但偏置器件中出現(xiàn)的1/f噪聲可能會(huì)降低低頻下的性能。3°楔狀藍(lán)寶石(wAl2O3)或硒化鋅抗反射涂層(wZnSeAR)窗口可防止不必要的干擾影響。 

光譜響應(yīng)
2.0-12um
技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品特點(diǎn)

● 含有四級(jí)TE制冷以提高探測(cè)器性能

● 可探測(cè)中紅外波長(zhǎng)范圍2-12μm

● 可配專用前置放大器

● 1mm×1mm大尺寸光敏面

● 帶有抗反射涂層窗口鏡

● 帶有超半球微型砷化鎵透鏡實(shí)現(xiàn)光學(xué)浸沒,有效提升探測(cè)效率


產(chǎn)品應(yīng)用

● 醫(yī)學(xué)熱成像

● 紅外光譜分析

● 中紅外氣體吸收檢測(cè)

● 中紅外激光探測(cè)



參數(shù)

探測(cè)器型號(hào)

PVI-4TE-3

PVI-4TE-3.4

PVI-4TE-4

PVI-4TE-5

PVI-4TE-6

PVI-4TE-8

PVI-4TE-10.6

有源元件材料

外延MCT異質(zhì)結(jié)構(gòu)


最佳波長(zhǎng)λopt,μm

3

3.4

4

5

6

8

10.6

探測(cè)靈敏度D*(λpeak),cm·Hz?/w

≥1×1012

≥8×1011

≥6×1011

≥3×1011

≥8×1010

≥5×109

≥4×109

探測(cè)靈敏度D*(λopt),cm·Hz?/W

≥8×1011

≥7×1011

≥4×1011

≥1×1011

≥6×1010

≥4×109

≥2×109

電流響應(yīng)度Ri(λopt),A/W

≥0.5

≥0.8

≥1.0

≥1.3

≥1.5

≥0.5

時(shí)間常數(shù)T,ns

280

200

≤100

≤80

≤50

≤45

≤25

電阻-感光元件面積乘積R·AO,Ω·cm2

≥30000

≥2000

≥800

≥40

≥3

≥0.06

≥0.05

有源元件溫度Tdet,K

~195

感光面面積AO,mm×mm

0.5×0.5,1×1

封裝

TO8,TO66

接收角Φ

~36°

窗口

wAl2O3

wZnSeAR


TO8型封裝外形尺寸圖

7.png

參量

數(shù)值

浸沒微型透鏡形狀

超半球形

光學(xué)區(qū)域面積AO;mm×mm

0.5×0.5

1×1

R,mm

0.5

0.8

A,mm

7.3±0.4

6.4±0.4

備注:

?—接收角度;

R—超半球微型透鏡半徑

A—4TE-TO8型封裝頂部下表面與焦平面的距離


2TE-TO8引腳定義

功能

PIN號(hào)

探測(cè)器

1,3

反向偏壓(可選)

1(-),3(+)

熱敏電阻

7,9

TE冷卻器供應(yīng)

2(+),8(-)

底板接地

11

未使用

4,5,6,10,12


4TE-TO66封裝尺寸圖

88.jpg

參量

數(shù)值

浸沒微型透鏡形狀

超半球形

光學(xué)區(qū)域面積AO;mm×mm

0.5×0.5

1×1

R,mm

0.5

0.8

A,mm

8.35±0.4

7.45±0.4

備注:

?—接收角度;

R—超半球微型透鏡半徑

A—4TE-TO66型封裝頂部下表面與焦平面的距離


TO66引腳定義

功能

PIN號(hào)

探測(cè)器

7,8

反向偏壓(可選)

7(-),8(+)

熱敏電阻

5,6

TE冷卻器供應(yīng)

1(+),9(-)

未使用

2,3,4

探測(cè)器光譜響應(yīng)特性曲線

PVI-4TE.jpeg

熱敏電阻特性曲線

PV-2TE1.jpeg

四級(jí)TE冷卻參數(shù)表

參量

數(shù)值

Tdet , K

~195

Vmax , V

8.3

Imax , A

0.4

Qmax , W

0.28


抗反射涂層窗口光譜透過率曲線

PV-2TE2.jpeg

2-12μm ,MCT中紅外四級(jí)TE冷卻光浸式光電探測(cè)器  PVI-4TE系列

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