追求合作共贏
Win win for you and me光器件垂直整合方案提供者
誠信經(jīng)營質(zhì)量保障價格合理服務完善當前位置:首頁 > 產(chǎn)品展示 > 光學測量儀器 > 觀察儀/觀察鏡 > FS70-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭 可調(diào)光通比 C-mount接口)(觀察儀)
簡要描述:FS70-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭 可調(diào)光通比 C-mount接口)(觀察儀)應用:切割、修整、校正、 給半導體電路做標記薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。? 可用于紅外光學系統(tǒng)*。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
品牌 | 其他品牌 | 貨號 | E80100143 |
---|---|---|---|
規(guī)格 | 1 | 供貨周期 | 現(xiàn)貨 |
主要用途 | 實驗 | 應用領域 | 電子,電氣,綜合 |
FS70-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭 可調(diào)光通比 C-mount接口)(觀察儀)
日本三豐Mitutoyo FS70 半導體檢測顯微鏡,半導體觀測顯微鏡 ,工作距離足夠長,倍數(shù)高,能夠應用在各種檢測場合和質(zhì)量確認方面。搭配Mitutoyo的全系列可見光遠場校正鏡頭,顯微鏡系統(tǒng)的放大倍率可涵蓋20X到8000X,工作距離范圍從6到34mm。對焦目鏡可安裝直徑為25mm的測量分劃板來測量。50/50三端輸出顯微鏡的粗調(diào)范圍為50mm,精確調(diào)整分辨率可達0.1mm,并可同時進行視頻輸出和雙目觀測。
FS70系列半導體檢測顯微鏡單元是一款帶目鏡觀察的小巧顯微鏡單元。適于檢測金屬表面、半導體、液晶基板、樹脂等??蓱糜谇懈睢⑿拚?、校正、 給半導體電路做標記/ 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。
特點
采用Mitutoyo遠場校正鏡頭
三端輸出設計可輕松接收視頻
轉盤可接最多四個物鏡
應用:
切割、修整、校正、 給半導體電路做標記
薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。
還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。
• 可用于紅外光學系統(tǒng)*。
應用:晶體硅的內(nèi)部觀察;紅外光譜特征分析。
* 需要紅外光源和紅外攝像機。
• 支持BF (亮視場)、DF (暗視場)、偏振光及微分干涉對比(DIC) 的型號(產(chǎn)品) 可用。
• 帶有孔徑光闌的柯勒照明是表面照明光學系統(tǒng)上的標準配件。
• 內(nèi)傾轉塔和超長工作距離的物鏡確保了顯微鏡下的高可操作性。
FS70-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭 可調(diào)光通比 C-mount接口)(觀察儀)
產(chǎn)品咨詢