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FS70-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭 可調(diào)光通比 C-mount接口)(觀察儀)

簡要描述:FS70-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭 可調(diào)光通比 C-mount接口)(觀察儀)
應用:

切割、修整、校正、 給半導體電路做標記

薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。

還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。

? 可用于紅外光學系統(tǒng)*。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時間:2024-12-09
  • 訪  問  量:365

詳細介紹

品牌其他品牌貨號E80100143
規(guī)格1供貨周期現(xiàn)貨
主要用途實驗應用領域電子,電氣,綜合

FS70-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭 可調(diào)光通比 C-mount接口)(觀察儀)

產(chǎn)品總覽

日本三豐Mitutoyo FS70 半導體檢測顯微鏡,半導體觀測顯微鏡 ,工作距離足夠長,倍數(shù)高,能夠應用在各種檢測場合和質(zhì)量確認方面。搭配Mitutoyo的全系列可見光遠場校正鏡頭,顯微鏡系統(tǒng)的放大倍率可涵蓋20X到8000X,工作距離范圍從6到34mm。對焦目鏡可安裝直徑為25mm的測量分劃板來測量。50/50三端輸出顯微鏡的粗調(diào)范圍為50mm,精確調(diào)整分辨率可達0.1mm,并可同時進行視頻輸出和雙目觀測。

FS70系列半導體檢測顯微鏡單元是一款帶目鏡觀察的小巧顯微鏡單元。適于檢測金屬表面、半導體、液晶基板、樹脂等??蓱糜谇懈睢⑿拚?、校正、 給半導體電路做標記/ 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。


通用參數(shù)

特點

采用Mitutoyo遠場校正鏡頭

三端輸出設計可輕松接收視頻

轉盤可接最多四個物鏡


應用:

切割、修整、校正、 給半導體電路做標記

薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。

還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。

• 可用于紅外光學系統(tǒng)*。

應用:晶體硅的內(nèi)部觀察;紅外光譜特征分析。

* 需要紅外光源和紅外攝像機。

• 支持BF (亮視場)、DF (暗視場)、偏振光及微分干涉對比(DIC) 的型號(產(chǎn)品) 可用。

• 帶有孔徑光闌的柯勒照明是表面照明光學系統(tǒng)上的標準配件。

• 內(nèi)傾轉塔和超長工作距離的物鏡確保了顯微鏡下的高可操作性。




FS70-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭 可調(diào)光通比 C-mount接口)(觀察儀)



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